掃描電子顯微鏡（SEM）
更新：2017-7-9 21:53:01 點(diǎn)擊：
- 產(chǎn)品品牌 日本電子
- 產(chǎn)品型號(hào)
- 產(chǎn)品描述
掃描電子顯微鏡（SEM）...
產(chǎn)品介紹
掃描電子顯微鏡利用二次電子信號(hào)成像來觀察樣品的表面形態(tài)。可以直觀的觀測(cè)到微觀顆粒的表面形貌特征。
分辨率：
1.0nm (二次電子,加速電壓：15kV)
1.3nm (二次電子,加速電壓：1kV)突出的低壓分辨率
1.5nm (背散射電子,.加速電壓：30kV)突出的背散射技術(shù)
常規(guī)拓展，如安裝能譜進(jìn)行微區(qū)元素分析等。
旭陽(yáng)合作品牌：日本電子
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